西門子S120伺服電機驅動器亮紅燈報警

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西門子S120伺服電機驅動器亮紅燈報警

測試時被測 的某輸出端不(bu)會變化，總是高

電平或低電子，自然(ran)該芯片通不過測試，除了該芯

片本身已損壞之外(wai)，常為該輸出端外(wai)部負載過重或

對(dui)地、對(dui)源短路(lu)所致，如該輸出(chu)端所驅動的下(xia)級

輸人(ren)端(duan)性能變壞(huai)或(huo)短(duan)路，輸出印刷線漏電或(huo)短(duan)

路，都會造成這種情況。有時由(you)于該輸出(chu)端接有電

容負(fu)載(zai)，使輸出電平過一段時間才能變(bian)高，測試工

作頻率較高的測試(shi)(shi)僅誤測為低電(dian)平，而使測試(shi)(shi)通不

過。例(li)如一塊日本 數(shu)控系統(tong)

板，采用超能 型測試儀進行檢(jian)查(cha)，發現(xian)其(qi)

中有一塊 測(ce)試通不過(guo)。從診斷(duan)測(ce)試提

供的波形圖看出(chu)無(wu)論輸入腳高低電平變化，輸出(chu)

腳總是低(di)電平，有時為三態。分析該腳的輸出電

路(lu)，發現該(gai)腳并聯了一只電容(rong)器，將該(gai)電容(rong)器斷開

再測(ce)(ce)，測(ce)(ce)試通過(guo)。用萬用表測(ce)(ce)量(liang)該電容，有(you)漏電現

象，調換新電容(rong)之后，該片測試(shi)通過。板上另一片

，測試也通不過(guo)，發現輸(shu)出腳 總是高(gao)電(dian)

子。測其連(lian)線狀態，發現該腳(jiao)已(yi)和 相連(lian)，拆(chai)下該芯片(pian)離線測試卻正常。用萬用表(biao)測量該腳(jiao)多層印(yin)

制(zhi)版金(jin)屬(shu)化焊腳孔，發現已和電源(yuan)層短路(lu)。將(jiang)該腳

孔割(ge)去不用，另(ling)接線輸(shu)出(chu)。上(shang)述(shu)兩(liang)處故障排除后，

該板恢復正常。

（）被測 的輸入電平出錯 由于器(qi)件(jian)的故

障、輸(shu)入(ru)回路(lu)電(dian)路(lu)板短(duan)路(lu)、輸(shu)入(ru)腳并接(jie)較大電(dian)容

器，或(huo)電路設計的某種需要，將輸入(ru)腳拉到 或(huo)

等原(yuan)因，有(you)可能使測試失(shi)敗。如同超能

在線測試儀對使(shi)能腳（腳）常接高電平

的 雙向總線傳輸器芯片(pian)進(jin)行(xing) 測試時，

由于無法驅動 腳到低電平， 腳不能處于輸

入狀(zhuang)態，故給出(chu)“輸入電平(ping)出(chu)錯"，器件不(bu)能通過

測試。

對集電極開(kai)路輸(shu)出芯(xin)片的測試時，由于集電極

開(kai)路的輸出需(xu)要上拉電阻或連接在 與輸出之(zhi)間

的負載(zai)才能正(zheng)常工作，否(fou)則集(ji)電極開路輸出腳(jiao)總是

低(di)電平(ping)，而無(wu)法通過測試。在(zai)這種情況下(xia)，可(ke)用(yong)

電阻(zu)連接(jie)在(zai) 與開路輸出腳(jiao)之間(jian)，再進行測試，作進一步(bu)確認。有(you)些在(zai)線(xian)測試儀（如 ）

的 測試(shi)軟件可以(yi)任意設置連(lian)接一個內部的

電阻。上拉(la)電阻到芯(xin)片的任何管腳，這就無需

外接電阻。如用 型在線測試儀對(dui)一塊接口

板上的一片 芯片進行 測(ce)試時，從顯示的

時序圖中發現(xian)該芯片(pian)腳總是(shi)低電平，這正是(shi)屬(shu)于

集電極(ji)開路輸出而無上拉(la)電阻的情(qing)況。儀器提示

腳未作測試(shi)，因此(ci)，需要和 連接 電阻再

測，測試通(tong)不過。將該片焊下來離(li)線測試時(shi)，發現

腳已經擊穿。

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